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  1. ARM_JTAG_principle

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  2. 主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。-Introduces the basic principles of ARM JTAG debug. The basic elements include TAP (TEST ACCESS PORT) and BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE intr

  3. 所属分类：微处理器(ARM/PowerPC等)

    • 发布日期：2025-06-05
    • 文件大小：462848

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