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[其他行业] chargepumping
说明:利用charge pumping技术,来测量半导体器件的耐受性及可靠性等相关指标。系统一般包含脉冲源和SMU(源测量仪表)-an skill and measurement method which is using charge pumping to detect characterizaiton of chips<zhaoanyu> 在 2025-09-04 上传 | 大小:153kb | 下载:0
[OpenGL] Archive
说明:Code to perform a screen capture using opengl<genuineleather> 在 2025-09-04 上传 | 大小:1kb | 下载:0
[数据结构常用算法] binarytree
说明:二叉树的排序!前序,中序及后序,并求其深度-Binary tree sort! Pre-order, middle order and post order, and to seek its depth<123> 在 2025-09-04 上传 | 大小:1kb | 下载:0
[驱动编程] flash_test
说明:一些控制算法去测量nand 或者nor flash架构的特性,这主要针对存储阵列进行的测试方法的控制代码-one method to control Semiconductor Tester to achieve nor or nand flash test,especially for memory array<zhaoanyu> 在 2025-09-04 上传 | 大小:11kb | 下载:0
[其他行业] Reliablity_ramp
说明:实现了Jedec标准中对超薄膜氧化层的MOS电容的Time-zero可靠性测试方法。可直接用于半导体器件可靠性测试中-a realization of Time-zero dilectric breakdown according to Jedec standard,which can use to achieve reliability of wafer<zhaoanyu> 在 2025-09-04 上传 | 大小:37kb | 下载:0