[其他嵌入式/单片机内容] Temperature-displayed-

说明：用51单片机控制测温元件检测温度 并显示在液晶屏上-And displayed on the LCD with 51 control the temperature measurement devices to detect temperature
<潘小雨> 在 2025-10-07 上传 | 大小：1kb | 下载：0

[VHDL编程] Simulate-CR-XR-EE-KT_2008_004

说明：Simulate CR XR-EE-KT_2008_004
<MR TRUONG> 在 2025-10-07 上传 | 大小：1.07mb | 下载：0

[微处理器(ARM/PowerPC等)] USBjiekousheji

说明：usb接口设计,this is usb interface-this is usb interface
<白召飞> 在 2025-10-07 上传 | 大小：375kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] 12864-clock-

说明：基于C51单片机和12864液晶屏的带农历的时钟程序,使用Keil编辑，编译。可实现时钟时间、日期、星期、农历的显示，时间日期的修改！-c51 12864 clock keil
<yu chao> 在 2025-10-07 上传 | 大小：91kb | 下载：0

[其他嵌入式/单片机内容] Temperature-control

说明：温度控制/本实验程序为温度控制实验,实验内容为通过A/D转换器从温控模块获取温度信息，在Nios控制器中对温度信息,进行处理，同给定的目标温度值比较，然后发出继续加热或者停止加热的信息，从而 实现闭环控制。-Temperature control/this experiment procedure for temperature control experiment, experiment content for through the A/D converter for temperatu
<程静涛> 在 2025-10-07 上传 | 大小：11kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] wireless_send_recieve-5-all-success

说明：基于avr单片机Atmega16l和Nrf24l01无线收发模块的游中国在线调试程序。实现了通过无线串口向电脑端发送传感器采集到的路径信息，并可以在线设定车速和控制小车的方向.-avr, atmega16 ,nrf24l01 ,visitchina ,wireless send and receive
<yu chao> 在 2025-10-07 上传 | 大小：119kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] Timers

说明：利用8051系列单片机，设计的计数器代码。包括8位计数器，16位计数器，已经带溢出和重载的计数器。-For 8051MCP design counter code. Including eight bit timer, 16 bit timer, a reload timer and ext timer.
<林新> 在 2025-10-07 上传 | 大小：14kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] DS18B20

说明：多通道温度监测仪器 有时间日期 可调时间日期 可选择要监测的温度通道-Multi channel temperature monitoring apparatusTime dateAdjustable time dateCan choose to monitor the temperature channel
<黄海金> 在 2025-10-07 上传 | 大小：72kb | 下载：0

[VHDL编程] Bist_codings

说明： In this paper, we have explained the purpose of FPGA testing. A built-in-self-test (BIST) is one type of testing. This test is performed internally to find any faults within a FPGA chip. This paper explains why testing is important to FPGAs. It also
<saravanan> 在 2025-10-07 上传 | 大小：14kb | 下载：0

[VHDL编程] bist(1)

说明： In this paper, we have explained the purpose of FPGA testing. A built-in-self-test (BIST) is one type of testing. This test is performed internally to find any faults within a FPGA chip. This paper explains why testing is important to FPGAs. It also
<saravanan> 在 2025-10-07 上传 | 大小：3kb | 下载：0

[VHDL编程] AES

说明：
<saravanan> 在 2025-10-07 上传 | 大小：495kb | 下载：0

[其他嵌入式/单片机内容] Entrenador-Digital-para-Microcontrolador-PIC16F84

说明：Digital trainer for pic16F84a with included ICSP, photos and schematic.
<micro_cadaver> 在 2025-10-07 上传 | 大小：764kb | 下载：0