[单片机(51,AVR,MSP430等)] ARDUINO-PN532_SPI

说明：PN532 SPI arduino source and example
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[单片机(51,AVR,MSP430等)] ARDUINO-Ndef-dev

说明：NFC NDEF Arduino source and example
<headphone> 在 2025-11-05 上传 | 大小：24kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] NFC-P2Pexample

说明：NFC P2P source and example
<headphone> 在 2025-11-05 上传 | 大小：249kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] 12864

说明：gcog12864 任意一点写入，可写入或擦掉12864点阵任意一点-gcog12864 write any point
<毕红> 在 2025-11-05 上传 | 大小：25kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] timer

说明：单片机 电子钟设计，可以实现单片机时钟的计时及显示，是学习，练习单片机的好资源-Single-chip electronic clock design, can achieve single-chip clock timing and display, is to learn, practice good resource SCM
<xudongdong> 在 2025-11-05 上传 | 大小：48kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] STM32-I2C

说明：STM32 I2C的程序....可直接使用-STM32 I2C的程序....可直接使用.....
<maoliang> 在 2025-11-05 上传 | 大小：1.47mb | 下载：0

[其他嵌入式/单片机内容] Car4.0

说明：第六届飞思卡尔比赛程序，里面有飞思卡尔单片机mc9sxs128的各种底层驱动，是采用摄像头做传感器的-Freescale' s sixth race program, there are a variety of Freescale MCU mc9sxs128 underlying driver is done using the camera sensor
<alien> 在 2025-11-05 上传 | 大小：350kb | 下载：0

[单片机(51,AVR,MSP430等)] tajijiankong

说明：塔式起重机的超载报警和远程呼叫，主要应用于塔机的安全监控系统-Tower crane overload alarm and remote call, safety monitoring system is mainly used in the tower crane
<王琳> 在 2025-11-05 上传 | 大小：398kb | 下载：0

[嵌入式Linux] 453345486pthread

说明：这是一个嵌入式linux下的多线程代码，能通过交叉编译运行-关闭翻译英语中文德语检测语言 中文(简体)英语日语 翻译文字或网页 这是一个嵌入式linux下的串口驱动代码，能通过交叉编译运行 请键入文字或网站地址，或者上传文档。 取消 Zhè shì yīgè qiànrù shì linux xià de chuànkǒu qūdòng dàimǎ, néng tōngguò jiāochā biānyì yùnxíngThis is the code for an
<Khan> 在 2025-11-05 上传 | 大小：1kb | 下载：0

[VHDL编程] handbook

说明：Abstract—This paper presents a Viterbi-based test compression algorithm/architecture that provides high encoding efficiency and scalability with respect to the number of test channels. The proposed scheme finds a set of compressed test vectors
<shankar.m> 在 2025-11-05 上传 | 大小：3.65mb | 下载：0

[VHDL编程] upload

说明：A major obstacle that stands in the way of efficient test response compaction are the unknown values (x-values) captured by scan cells during testing. If test responses with x-values are compacted, some of the outputs of the compactor may als
<shankar.m> 在 2025-11-05 上传 | 大小：33kb | 下载：0

[VHDL编程] source

说明：A major obstacle that stands in the way of efficient test response compaction are the unknown values (x-values) captured by scan cells during testing. If test responses with x-values are compacted, some of the outputs of the compactor may als
<shankar.m> 在 2025-11-05 上传 | 大小：10kb | 下载：0