文件名称:AD_TEST
- 所属分类：
- 其他嵌入式/单片机内容
- 资源属性：
- [C/C++] [源码]
- 上传时间：
- 2012-11-26
- 文件大小：
- 36kb
- 下载次数：
- 0次
- 提 供 者：
- ci***
- 相关连接：
- 无
- 下载说明：
- 别用迅雷下载，失败请重下，重下不扣分！
介绍说明－－下载内容均来自于网络，请自行研究使用
本文件是AD测试实验；测试前需要对管脚复用的电压基准进行设置，将JP10的2，3脚短接，1脚空出。AD输入端子(J10)可输入4路AD(ADC0--ADC3)，另有1路可测量片内温度，5路采样值都通过串口发送出去，在串口调试助手上看观察其值。4路AD中ADC0可通过跳线器(JP5)“ADJ_VOL”（1，2脚短接）与板上电位器相连，通过手动调VR1可以观察到电压值的变化-This document is the AD test experiment testing is required before reuse of the voltage reference pin is set, the JP10 shorted 2,3 feet, 1 foot empty. AD input terminals (J10) to enter 4 AD (ADC0- ADC3), and 1 way to measure chip temperature, 5-way samples are sent through the serial port, serial port debugging assistant in terms of observed values. 4 AD by the ADC0 jumper (JP5) " ADJ_VOL" (1,2 pin shorted) is connected with the on-board potentiometer, VR1 can be observed by manually adjusting the voltage changes
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
AD_TEST\ADC.c
.......\ADC.h
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.......\ADTEST
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.......\ADTEST.M51
.......\ADTEST.Opt
.......\ADTEST.plg
.......\ADTEST.Uv2
.......\ADTEST_Opt.Bak
.......\ADTEST_Uv2.Bak
.......\c8051F320.h
.......\ML-320.c
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AD_TEST
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